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缺陷檢測(cè)與分析

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設(shè)備:光學(xué)缺陷分析設(shè)備Candela CS920/ SICA 88

廠商:美國(guó) KLA-Tencor Corporation/日本 Lasertec Corporation

用途:SiC/GaN/Si基板和外延(epi)晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),可同時(shí)測(cè)量散射強(qiáng)度、形狀變化、表面反射率和相位轉(zhuǎn)移,為特征缺陷(DOI)進(jìn)行自動(dòng)偵測(cè)與分類。

技術(shù)指標(biāo):

l  檢測(cè)缺陷尺寸>0.1μm

l  最大樣品尺寸:6inch Wafer

l  超過30DOI的缺陷分類


  • 地址:廣東省東莞市松山湖國(guó)家高新區(qū)總部一號(hào)12棟5樓

  • 電話:0769-33882377

  • 郵箱:nfjc@cwbg-nf.com

  • 傳真:0769-23078230

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